超景深顯微鏡本身并不直接用于測量金屬的成分，其主要功能是提供高清晰度的三維圖像，以便觀察和分析樣品的表面形貌和結構。然而，結合其他分析技術，如能譜分析（EDS）或光譜分析（如X射線光譜分析XRF），可以在超景深顯微鏡的觀察下對金屬樣品進行成分分析。

以下是使用超景深顯微鏡結合其他技術測量金屬成分的一般步驟：

樣品準備：首先，需要將金屬樣品制備成適合觀察的形態。這可能包括切割、研磨、拋光等步驟，以確保樣品的表面平整且無明顯缺陷。

安裝樣品：將制備好的金屬樣品安裝在超景深顯微鏡的載物臺上，并調整顯微鏡的焦距和光源，以獲得清晰的圖像。

觀察與定位：使用超景深顯微鏡觀察樣品的表面形貌和結構，并確定需要進行成分分析的區域。可以通過移動載物臺或使用顯微鏡的聚焦和縮放功能來精確定位。

結合分析技術：在確定了需要分析的區域后，可以使用能譜分析（EDS）或光譜分析（如X射線光譜分析XRF）等技術對該區域進行成分分析。這些技術可以通過檢測樣品中不同元素的特征信號來確定其元素組成和含量。

數據分析：將分析得到的數據進行處理和分析，以得出金屬樣品的成分信息。這通常包括元素的識別、含量的計算和可能的元素分布圖等。

需要注意的是，超景深顯微鏡和能譜分析或光譜分析等技術的結合使用需要專業的操作技能和經驗。此外，不同的金屬樣品可能需要不同的制備方法和分析技術，因此在實際應用中需要根據具體情況進行選擇和優化。