超景深顯微鏡具有多種觀察方式，以滿足不同樣品和測試需求。以下是幾種常見的觀察方式：

明場觀察：

這是Z基本的觀察方式，通過直接照射樣品并觀察反射光來成像。

適用于大多數常規樣品的表面形貌觀察。

暗場觀察：

暗場觀察通過特殊的光路設計，使得只有樣品邊緣或表面微小顆粒散射的光能夠進入物鏡，形成高對比度的圖像。

這種方法特別適用于觀察樣品的細微結構、表面粗糙度以及微小顆粒等。

偏光觀察：

偏光觀察利用偏振光來觀察樣品的雙折射現象，如晶體結構、纖維排列等。

通過旋轉偏光鏡，可以觀察到樣品內部結構的詳細變化。

微分干涉觀察（DIC，Differential Interference Contrast）：

微分干涉觀察通過引入微小的相位差來增強樣品的表面形貌對比度，使樣品的三維結構更加清晰可見。

這種方法特別適用于觀察樣品的表面起伏、細胞形態等。

明場+暗場組合觀察：

某些超景深顯微鏡還支持明場和暗場的組合觀察方式，通過電動切換或同時觀察，可以綜合兩者的優點，更全面地分析樣品。

多角度觀察（如傾斜型超景深顯微鏡）：

某些G端的超景深顯微鏡（如奧林巴斯DSX1000傾斜型）支持多角度觀察功能，可以傾斜頭部進行變焦，同時保持視場不變，從而實現對樣品的多角度觀察。

這種觀察方式有助于更全面地了解樣品的立體結構和表面特征。

3D成像與測量：

超景深顯微鏡通常還具備2D和3D成像功能，可以測量點間距、圓心距、輪廓、高度、面積等參數。

通過3D成像技術，可以直觀地展示樣品的立體形態和內部結構。

需要注意的是，不同的超景深顯微鏡品牌和型號可能具備不同的觀察方式和功能特點。因此，在選擇超景深顯微鏡時，需要根據具體的測試需求和樣品特性來選擇合適的型號和配置。同時，在使用過程中，也需要根據操作手冊和實驗要求來正確選擇和切換觀察方式，以獲得Z佳的測試效果。