超景深顯微鏡能夠測量表面粗糙度，主要基于以下幾個方面的技術和原理：

超景深成像原理：超景深顯微鏡通過在不同焦距下獲取多幅圖像，然后將這些圖像合成一個具有更大景深范圍的圖像。這種技術使得在不同深度的表面特征都能清晰地顯示出來，進而可以準確地評估表面的粗糙度。

結構光投射原理：超景深顯微鏡還常常利用結構光投射技術。通過投射特殊的結構光圖案到被測表面上，并利用相機捕捉這些結構光在表面上的變形，可以精確地計算出表面的三維形貌。這一技術對表面微小的不平整度特別敏感，從而能夠精確測量表面的粗糙度。

高分辨率成像：超景深顯微鏡的高分辨率物鏡能在低倍率下提供清晰的圖像，減少了陰影和光斑的干擾，使得檢測員能夠更容易地觀察到表面的微小細節，從而更準確地判斷表面的粗糙度。

多角度觀察能力：超景深顯微鏡的頭部和載物臺可以進行自由角度調節，使得觀察者能夠從任意角度對表面進行觀察。這種全方位的觀察有助于更全面地評估表面的粗糙度，減少因觀察角度限制而帶來的誤差。

圖像處理和恢復算法：超景深顯微鏡利用先進的圖像處理和恢復算法，能夠從采集的圖像序列中重構出表面的三維形貌。這種算法能夠增強圖像的對比度，減少噪聲，并提取出與表面粗糙度相關的信息。

綜上所述，超景深顯微鏡通過其獨特的成像原理、結構光投射技術、高分辨率成像、多角度觀察能力以及先進的圖像處理和恢復算法，能夠實現對表面粗糙度的精確測量。